Primo VNA capace di misurazioni da 70 kHz a 220 GHz in una singola scansione

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Primo VNA capace di misurazioni da 70 kHz a 220 GHz in una singola scansione
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Anritsu Corporation presenterà quest’anno il suo nuovo ed esclusivo Vector Network Analyzer (VNA) in tre importanti istituti e università in Europa, con ulteriori eventi che seguiranno nel 2021.

Le dimostrazioni dal vivo, in Svizzera, Francia e Svezia, mostreranno il VNA a banda larga VectorStar ME7838G di Anritsu, in grado di effettuare misurazioni da 70 kHz a 220 GHz in una sola scansione.

Il ME7838G, insieme alla probe station da 200 mm di MPI, consente misurazioni su wafer che si estendono nelle frequenze superiori di mmWave per una caratterizzazione più accurata del dispositivo.

La prima tappa del tour è all’ETH di Zurigo presso l’Istituto di campi elettromagnetici (IEF) in Svizzera, il quale ricerca le caratteristiche delle onde e delle particelle dei campi elettromagnetici a tutte le frequenze.

Dal 21 settembre, gli ingegneri possono vedere la demo all’Université Grenoble Alpes in Francia nel suo dipartimento del Centre Interuniversitaire de MicroElectronique et Nanotechnologies (CIME), mentre a novembre la demo sarà ospitata dalla Chalmers University of Technology in Svezia nel suo dipartimento di Microtecnologia e Nanoscienze.

Il sistema a banda larga basato su VectorStar offre agli ingegneri la fiducia nei sistemi che stanno progettando caratterizzando i dispositivi da near-DC a ben oltre la frequenza operativa, consentendo una modellazione più accurata.

Caratteristiche
  • Copertura di frequenza massima a 220 GHz, con estensioni a 1,1 THz
  • Elimina il processo di concatenazione che richiede tempo ed è soggetto a errori tra le bande RF, microwave e mmWave
  • L’architettura modulare consente al sistema di crescere secondo necessità
  • Riduce il rischio di errore di estrapolazione della banda della guida d’onda nella modellazione del dispositivo

Con la serie VectorStar ME7838x, gli ingegneri RF e microwave dispongono ora di un potente strumento di misurazione per analizzare le prestazioni di dispositivi che vanno dai transistor in un ambiente su wafer, ai sistemi di comunicazione in applicazioni commerciali o di difesa.

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