mercoledì, Gennaio 26, 2022
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Test parametrico S530 con il software KTE V7.1 per accelerare la produzione di dispositivi a semiconduttore

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Tektronix con il rilascio del software KTE V7.1 per il sistema di test parametrico serie S530 di Keithley si pone l’obiettivo di accelerare lo sviluppo di dispositivi a semiconduttore in un momento in cui la richiesta di questi chip non è mai stata così elevata.

Tra le opzioni disponibili per la prima volta con la release 7.1 di KTE da segnalare una nuova funzionalità per il test parallelo e la possibilità di effettuare il collaudo delle capacità ad alta tensione, particolarmente utile per i dispositivi di potenza di nuova generazione e per quelli realizzati con materiali WBG (Wide BandGap).

Grazie alla riduzione dei tempi di test superiori al 10% rispetto alla versione KTE V5.8, è possibile ridurre i tempi di fermo (downtime) e realizzare chip in tempi molto più brevi.

La sempre più massiccia diffusione della tecnologia 5G e la crescita delle applicazioni IoT hanno contribuito ad alimentare la domanda di semiconduttori.

La carenza di componenti su scala mondiale richiede non solo un aumento della produzione, ma anche la capacità di collaudare in tempi più brevi i nuovi chip che vengono sviluppati.

Il rilascio di questo sistema di test da parte di Tektronix può contribuire ad accelerare il processo produttivo mediante la diminuzione dei tempi di test, il che comporta una maggiore rapidità di introduzione dei nuovi chip nel mercato.

La release 7.1 di KTE sfrutta i miglioramenti in termini di funzionalità e throughput apportati al sistema S530 dal momento del rilascio di KTE 7.0.

La nuova testina (testhead) è stata progettata per garantire la flessibilità necessaria quando si usano diversi modelli di probe card.

L’hardware e il software aggiornati supportano il collaudo in un solo passaggio (single-pass test), a tutto vantaggio del throughput.

Per quanto concerne l’assistenza, la SRU (System Reference Unit) di recente introduzione permette di effettuare la calibrazione in un tempo inferiore a 8 ore, che può essere quindi completata durante un normale turno di lavoro.

La SRU può essere acquistata direttamente oppure, in alternativa, è possibile sottoscrivere un piano di assistenza SSO.

Principali miglioramenti e novità assolute

La funzionalità di test parallelo migliora la produttività e riduce i costi del collaudo

Disponibile per la prima volta sulla release KTE V7.1, l’opzione per il test in parallelo per il sistema S530 consente di aumentare ulteriormente la produttività e ridurre i costi del collaudo: il range di miglioramento previsto è dell’ordine del 30%, in funzione dei test e delle strutture.

Basato sull’innovativa architettura hardware di S530 che consente a un massimo di 8 SMU ad alta risoluzione di connettersi a qualsiasi pin di test attraverso qualunque linea /pin Kelvin presente nel sistema, il software per il collaudo parallelo di Keithley ottimizza l’efficienza di tutte le risorse del sistema al fine di aumentare al massimo il throughput del collaudo.

Funzionalità di test di capacità ad alta tensione per i più recenti dispositivi di potenza e WBG

Oggigiorno è necessario collaudare dispositivi ad alta tensione.

La richiesta di chip in grado di commutare in modo più veloce ed efficiente è in continuo aumento.

Una maggiore efficienza non solo contribuisce a diminuire i consumi e il calore generato, ma anche a ridurre l’impatto ambientale.

Per collaudare questi dispositivi ad ampia banda proibita alle tensioni di funzionamento più elevate, i progettisti devono spostarsi dai laboratori di R&D agli stabilimenti produttivi.

L’opzione HVCV (High Voltage Capacitance Voltage), disponibile nella release 7.1 di KTE, è una caratteristica unica che abbinata alla soluzione esclusiva di test “single-pass” presente sul mercato capace di effettuare misure nell’intervallo compreso tra 200 e 1.000 V, e da la possibilità di collaudare capacità con una polarizzazione fino a 1.100 VDC.

Questa funzionalità, pronta per l’uso in produzione, consente misure di precisione di Cdg, Cgs e Cds al fine di supportare la caratterizzazione e il test delle prestazioni relative ai transitori di ingresso e di uscita di un dispositivo di potenza.

Collaudo fino a 1.100 V su ogni pin mediante un singolo contatto della sonda

Oltre a erogare e misurare tensioni fino a 1.100 V, un sistema S530-HV prevede la possibilità di configurare fino a due SMU mod. 2470 ad alta tensione, mentre la matrice di commutazione ad alta tensione presente all’interno di S530-HV consente all’utente di eseguire queste misure su ogni pin di test in qualunque momento.

Ciò assicura la flessibilità necessaria per soddisfare le esigenze in termini di pinout di un’ampia gamma di strutture e dispositivi di test, eliminando le penalizzazioni a livello di throughput e gli elevati costi associati ad approcci diversi che prevedono il collaudo in due passaggi (two-pass testing) o il ricorso a pin dedicati.

Commenti

Le tecnologie emergenti nei settori dell’analogica, della potenza e dei dispositivi WBG realizzati in SiC e GaN – ha sostenuto Peter Griffiths, general manager Systems & Software di Tektronix – richiedono un collaudo parametrico capace di ottimizzare le prestazioni di misura, supportare una grande varietà di prodotti e minimizzare i costi. I nostri clienti, che includono i più importanti produttori mondiali di chip, apprezzeranno sicuramente i miglioramenti di KTE V7.1, grazie ai quali i progettisti potranno sviluppare in tempi estremamente brevi le innovazioni necessarie per soddisfare le richieste di mercati in continua trasformazione”.

Per informazioni clicca qui 

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