Moduli a 300 MHz 32×8 PXI e PXIe

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Moduli a 300 MHz 32x8 PXI e PXIe
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Pickering Interfaces ha introdotto nuovi moduli integrati a matrice PXI RF con una topologia 32×8, che rappresentano un aumento del 33% della densità della matrice per slot del telaio.

I nuovi moduli con footprint compatto 40-724 PXI & 42-724 PXIe offrono prestazioni elevate con una larghezza di banda utilizzabile di 300 MHz per i modelli non loop-thru.

Facilitando la semplice scalabilità, i moduli hanno opzioni con porte loop-thru sull’asse Y per applicazioni più grandi che richiedono l’espansione della matrice.

Per fornire la massima granularità di costruzione del sistema di test, la famiglia 4x-724 è disponibile in quattro dimensioni di matrice: 16×4, 16×8, 32×4 e la 32×8 completamente popolata.

Le opzioni abilitate per il loop-thru sono fornite per ciascuna dimensione della matrice.

Le porte loop-thru sono collegate direttamente alla matrice, che, a differenza di altri prodotti a matrice RF, consente la creazione di percorsi di segnale da X a X tra le schede durante il collegamento in cascata di più moduli.

Questa utile funzione aumenta la flessibilità del sistema di test ma con prestazioni RF ridotte.

I moduli a matrice 4x-724 RF sono dotati di relè reed di alta qualità con spruzzatura di rutenio, garantendo una lunga durata.

Inoltre, i relè reed hanno un tempo di funzionamento di soli 0,5 ms (tipico), notevolmente inferiore rispetto alle soluzioni elettromeccaniche, riducendo al minimo la durata del ciclo di test e aumentando la produttività dei test del prodotto.

I moduli sono disponibili con un’interfaccia di controllo PXI o PXIe che offrono flessibilità nella selezione dello chassis.

Tutte le versioni utilizzano connettori SMB standard per massimizzare le prestazioni del sistema semplificando al contempo l’interfaccia alla strumentazione esterna e ai DUT.

I nuovi moduli a matrice RF 4x-724 sono destinati a test RF generici in molte applicazioni, comprese radio di emergenza e test di semiconduttori.

Tutte le versioni del 4x-724 sono supportate dagli strumenti di test del sistema switching eBIRST di Pickering che possono essere utilizzati per test di manutenzione preventiva per determinare se i relè si stanno avvicinando alla fine del ciclo di vita.

Inoltre, gli strumenti eBIRST consentono una rapida ricerca dei guasti, riducendo così al minimo i tempi di fermo del sistema.

La divisione di connessione di Pickering offre soluzioni di cavi standard e personalizzate che possono aiutare con l’integrazione del modulo nel sistema di test.

Commenti

Commenta Steve Edwards, Switching Product Manager di Pickering Interfaces: “La famiglia si basa sulla tecnologia del modulo a matrice RF Pickering esistente per aumentare la dimensione massima della matrice a 32×8 per l’uso in applicazioni di test da 50 Ω. La maggiore densità, che rappresenta un netto aumento rispetto ai prodotti esistenti, consente sistemi di commutazione complessi da produrre pur richiedendo solo due slot per chassis“.

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